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Hinds偏振成像设备

成像型穆勒矩阵测量系统双折射显微成像系统(abrio替代产品)二维应力成像仪定量双折射成像系统磁光克尔效应测量系统 显示全部
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成像型穆勒矩阵测量系统

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  • 穆勒矩阵测量系统 高速高精度穆勒矩阵测量系统

    所属类别:光学检测设备 » Hinds偏振成像设备

    所属品牌:美国Hinds Instruments公司

    产品负责人:

    姓名:田工(Allen)

    电话:185 0166 2513(微信同号)

    邮箱:jinquan-tian@auniontech.com


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  • 穆勒矩阵测量系统

    高速高精度穆勒矩阵测量系统


    150XT 型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统,在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究,工业测量,光学组件偏振特性测量,制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持,可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟,圆偏相位延迟(或旋光),线性二向色性偏振衰减,圆二向色性偏振衰减图样。


    Hinds. Hinds Instruments 穆勒矩阵测量系统,穆勒矩阵测量,Exicor,Mueller Polarimeter ,150XT,穆勒椭偏仪


    高速高精度穆勒矩阵测量系统通过使用光弹调制器和相应偏振测量技术, 150XT 型穆勒矩阵椭偏仪在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款高速高精度穆勒矩阵测量系统对于科研研究,工业测量,光学组件偏振特性测量,制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。这套穆勒矩阵测量系统报包含完整软件支持,可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟,圆偏相位延迟(或旋光),线性二向色性偏振衰减,圆二向色性偏振衰减图样。



    产品特点

    ♦ 前所未有的穆勒矩阵探测精度(全矩阵)

    ♦ 穆勒矩阵16组参数同步测量

    ♦ 样品所有光学偏振特性同步测量

    ♦ 高重复精度

    ♦ 高速测量

    ♦ 系统光路固定(光路部分无移动组件,更稳定)

    ♦ 对不同尺寸待测样品同样支持测量扫描

    ♦ 光弹偏振测量技术

    ♦ 简易,人性化操作软件界面

     

    产品应用:

    科研/工业研发

    ♦ 品控/质检测量

    ♦ 如下各种样品的全偏振特性的测量:

    1. 科研级复杂内部结构光学组件

    2. 各种双折射/倍频晶体

    3. 复杂层级LCD

    4. 同晶晶体

    5. 各向异性晶体

    6. 化学和生物光学各向异性材料

    7. 由磁场/电场引起的各向异性样品

    规格参数

    穆勒矩阵 (不同参数,灵敏度不同)



    约3.533 mm厚度 C切割石英板状样品沿X-Y轴15°旋转

    0.5°步长)穆勒矩阵测量原始数据

     

    偏振测量参数



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